产品介绍：
半导体制冷实验仪采用半导体制冷片（帕尔帖）作为实验对象，可以研究半导体制冷片的制冷特性，并验证帕尔帖效应和塞贝克效应。
半导体制冷片（帕尔帖）作为热泵来演示热泵工作原理，观察制冷片冷端结露、结冰全过程，验证帕尔帖效应；半导体制冷片（帕尔帖）亦可作为热机来演示热机工作原理，发出稳定直流电，驱动直流电机转动和LED发光，验证塞贝克效应。
半导体制冷实验仪是由半导体制冷片、带风扇散热器、加热器、温度控制装置、温度测量装置、直流数字电压表、直流数字电流表等组成。
实验项目：
1.半导体温差发电实验（验证塞贝克效应）；
2.卡诺效率测试实验；
3.半导体发电带负载演示实验；
4.半导体发电特性测试实验；
5.半导体制冷、发电组合实验；
6.半导体冷端结冰实验（验证帕尔帖效应）；
7.半导体制热特性测试实验；
8.半导体制冷特性测试实验；
9.半导体制冷片负载特性测试实验；
10.半导体制冷结露、结冰现象演示实验；
11.半导体制冷MAX制冷系数测试实验；
技术参数：
半导体制冷片：帕尔帖；温差电流max：5.0A；
温差范围max：67℃；工作电压：15.4V；
产冷功率：41W；PN结对数：127；
额定电压：12VDC；额定电流：0.21A±10%；
PID温度调节器：-20.0-220.0℃；
温度分辨率：0.1℃；测温精度：±0.2℃；
控温范围：室温～80℃；控温精度：±0.5℃；
直流数字电压表：0-20V，三位半显示；精度0.5级。输入阻抗：10MΩ；
直流数字电流表：0-10A，三位半显示；精度0.5级；
