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半导体激光特性实验仪

型号:FMD3036
货号:F321
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注:产品图片仅供参考

半导体激光特性实验装置可用于完成学习阈值、发散角、偏振度等光学特征;测量半导体激光器的功率、电流、电压等参数;通过CCD光谱仪观测半导体激光器的光谱曲线实验。

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  • 实验项目:
    1.通过CCD光谱仪观测半导体激光器的光谱曲线;
    2.测量半导体激光器的功率、电流、电压等参数;
    3.学习阈值、发散角、偏振度等光学特征。
    技术参数:
    实验装置是由半导体激光器、光学多通道光栅光谱仪、光功率测量仪、旋转台、偏振组件、聚焦镜、升降台等组成;
    半导体光源中心波长:650nm,输出功<5mW,电流可调;
    光功率测量仪:200uW、2mW、20mW、200mW五档可调,三位半数显;
    光学多通道光栅光谱仪波长范围:300-900nm,波长精度≤±0.4nm,波长重复性≤0.2nm,分辨率≤0.2nm;
    探测器:响应波长400-1100nm

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