详情介绍 DETAILS

• 产品介绍：

  本实验介绍如何运用了二值化的方法测量物体的尺寸，同样在应用CCD测量物体位移或速度的时候也需要进行二值化处理。

  实验项目：

  1.线阵CCD的A/D数据采集；

  2.线阵CCD特性测量实验；

  4.线阵CCD输出信号的二值化；

  3.线阵CCD原理及驱动；

  5.利用线阵CCD测量物体尺寸。

  技术参数：

  本仪器由CCD实验仪主机、CCD传感器、镜头和实验导轨等构成；

  A/D转换时，幅度分辨率：1/256(8位量化)；

  空间分辨率：像素达2000个点、分辨率达几个微米；

  仪器可以用于CCD原理实验、非接触式测量实验；